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硅材料复合测试仪|SZT-5|

硅材料复合测试仪

一,分析;

SZT-4硅原资料软型各种综合测式仪，是由俩种硅原资料各种综合测式测量仪器组合名字而成的

1，二量测范围的内阻量测测定仪器，配合手执式四针测试软件仪头或座式测试软件仪架，常用来量测斑片状，柱状体，或颗粒状，内阻率

在0.01~200欧姆/厘范围内内的半导体行业食材。顺利通过对恒流源的更改，能够对某类在线测量结局来修整，这类对普遍硅食材的测试仪结局要×0.628的冒险头纠正因子，对硅材料薄层发展和导电保护膜“方块内阻“的计算因子为4.53等均可根据调正恒流电压对其进行工作。

SZT－4数字6式四探头测评仪，型体精巧，操作步骤方便快捷，测量范围比较，特别适於对重炼回料的分选。

2，整流法硅建筑材料P-N电性判别仪，搭配三针手握式式红外探头，能对颗粒状或小块阻值率在1000-0.01欧姆/Cm的。硅材质实施正负极判别

     本仪器设备的环境中工作條件为：

     　　温　　度：18℃―25℃

           相温度：50%－70%

     做工作内应无强电场线影响，不与中频产品混用主机电源。

二，高主要参数表

1,校正时间范围

（1）电阻功率率精确测量：

     电阻率       0.01-200Ω-cm

2,小数电压降表

     （1）量    程 :       200mV集中化量限

     （2）误    差:      读数±0.2%±3字

（3）导入阻值 :      >10MΩ

3,恒流源

     （1）电流量伤害               0~10mA陆续可以调整

     （2）量    程             1mA, 10mA

     （3）误    差             ±0.2%±3字,

4,手拿式四探头测试图片头

（a）探 针 间 距::      1mm

（b）检测器机械厂游移率:      ±1.0%

（c）探 针 材 料:      炭化钨,φ0.

（d）各种压力: zui大 2Kg

（2）导电方式判别：

可对电阻值比率1000-.0.01欧姆/分米的硅的原涂料作导电结构类型测试，也也可以声，光報警方式方法表达被测的原涂料一种"重掺"。

方块电阻值       0.01-200Ω-口

电    阻       0.01-200.0Ω

硅材料复合测试仪|SZT-5|