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库仑法测厚仪侧量最简单的方法

措施测头和被测部件表层都是是手触式，可将覆层层厚勘界有手触式勘界和不手触式勘界。

触控屏仗量是测头和被测产品工件外形直触控屏的仗量，并可挥发械角色力长期存在，通常情况下成的的成品和半的的成品的覆层板厚仗量太多使用触控屏仗量。

不接触测量是测头和被测零部件表面不发生了接触的测量，另外沒有物理角色力存在的，如x光谱线荧光，B放射性元素法等就得用于生產中的不触摸屏勘界。

从对被测覆层不是采取损伤看，覆层板材厚度可分成损害仗量和无损音乐仗量，或称损伤性仗量和非损伤性仗量。

有损丈量分阳极溶解库仑法、光学法(包含覆层断面显微镜丈量、干与法光学设备丈量、偏振光学法设备丈量、扫描电镜丈量)、化学溶解法(包含点滴法、液流法、称重法)。

无损丈量分为磁法、涡流法、射线法、光学法(包含光切法、光电法、双光束干与法等)、电容法、微波法、超声法。