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1．损害条件的相关的阐明

　　a 基体塑料永磁铁质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

　　b 基体黑色金属电特征

　　基体合金质的水的纯水电导率对測量有印象，而基体合金质的水的纯水电导率与其说涂料组成成分及热加工处理方式方法有关的信息。食用与试件基体合金质具备有相当特征的标准化片对实验仪器采取效准。

　　c 基体材料体积尺寸

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

　　d 边边作用

　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　e 曲率

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　f 试件的变弯

　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

　　g 表面层毛糙度

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

　　h 衔接有害物质

　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

　　i 测头的压力

　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

　　j 测头的趋向

　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

2．运用器材应立即当遵从的相关规定

　　a 基体金屬性状

　　关于磁块措施，标准单位片的基体废铝合金的磁块和外层不光滑度，还是应该与试件基体废铝合金的磁块和外层不光滑度相同。

  针对涡旋技巧，条件片基体合金的电性，怎样与试件基体合金的电性同类。

　　b 基体五金料厚

　　定期检查基体金属制的壁厚有没得已经超过临界状态的壁厚，若果没得，可运用3.3中的特定的办法开展调校。

　　c 边侧负效应

　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　d 曲率

　　不应在试件的弯曲表面上测量。

　　e 读无数次数

　　通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

　　f 表面上清洁卫生度

　　测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准